我国桑树五种常见粉虱的超微结构
应用环境扫描电镜(ESEM)对我国桑树5种主要粉虱害虫桑粉虱Pealius mori(Takahashi)、杨梅粉虱Parabemisia myricae Kuwana、珊瑚瘤粉虱Aleuroclava aucbae Kuwana、马氏粉虱Aleurdolobus marlatti(Quaintance)和非洲伯粉虱Bemisia afer(Priesner & Hosny)伪蛹的超微形态结构特征进行了系统观察和描述;并对这5种粉虱的主要形态特征进行了比较研究.
粉虱、桑树、超微结构、ESEM、中国
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Q96(昆虫学)
公益性行业农业科研专项200803005;无锡市科技计划项目CLE00803
2011-05-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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