10.13779/j.cnki.issn1001-0076.2015.05.009
LSX型体分子筛焙烧与二次晶化试验研究
以低硅铝比X(LSX)粉体、高岭土和LSX型体分子筛为研究对象,利用XRD和TG-DTA等手段对其物相和热稳定性进行了表征,探讨了不同晶化条件对LSX型体分子筛静态水吸附量的影响. 研究表明,随着焙烧温度的升高,LSX粉体的结晶性遭到破坏,高岭土逐渐转化为偏高岭土. LSX型体分子筛的最佳焙烧温度为600 ℃,在二次晶化温度为95 ℃、晶化时间为5 h、氢氧化钠浓度为2 mol/L时,LSX型体分子筛的最佳静态水吸附量达到了33 .5%.
LSX型体分子筛、焙烧、二次晶化
TF046.2(一般性问题)
郑州市科技攻关项目141PPTGG357
2015-12-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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