10.3969/j.issn.1007-9629.2001.03.005
硅粉水泥石小角度X射线散射实验研究(Ⅱ) --微孔界面过渡层厚度
采用X射线小角散射(SAXS)技术,测定了硅粉水泥石中微孔孔界面电子密度过渡层厚度,并对过渡层厚度产生的原因进行了探讨.研究表明:硅粉水泥石中微孔界面不具有分明的边界,而具有约2×10-9m厚度的电子密度缓变的过渡层;当水灰比较大时,水灰比和硅粉含量对过渡层厚度有较大的影响;水泥石的抗压强度与过渡层厚度存在较显著的相关性.
小角度X射线散射、水泥石、硅粉、界面
4
TQ172.1+2
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
228-231