磁敏感成像对弥漫性轴索损伤的诊断价值及其与GCS评分的相关性分析

摘要：

目的：评价磁敏感加权成像（SWI）对弥漫性轴索损伤（DAI）诊断及其与格拉斯哥昏迷（GCS）评分相关性分析的临床应用价值。方法对经临床诊断为DAI并行MRI检查的24例患者，行常规MRI（T1WI、T2WI、FLAIR、DWI）及SWI扫描，比较DAI病灶的显示率并分析其信号特征，评价SWI在DAI诊断中的价值及其与GCS评分的关系。结果24例D A I病灶主要分布在皮髓质交界区、脑白质区、基底节区、胼胝体、脑干及小脑。常规序列检出DAI病灶37个，T1WI、T2WI序列病灶呈点状或小结节状，信号表现多样。SWI序列检出DAI病灶179个，病灶呈斑点状、串珠状或线条状明显高、低或高低混杂信号。18例未累及脑中线结构，6例累及脑中线结构。24例中GCS评分轻度（13～15分）13例，中度（9～12分）6例，重度（3～8分）5例；治愈9例，好转9例，植物状态4例，死亡2例。结论 DAI病灶数目多、分布广泛或累及脑中线结构者，GCS评分低，二者均有明显相关性。SWI对DAI病灶的检出具有较高的敏感性，能较常规M RI序列检出更多的脑内微小出血灶，为临床早期诊断和治疗方案的制订及评估预后提供重要依据。

关键词：脑弥漫性轴索损伤、磁敏感成像、格拉斯哥昏迷评分

分类号：R73;R65

资助基金：重庆市渝北区社会事业科技项目。

在线出版日期：2015-12-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：3334-3336