X射线荧光光谱法测定重晶石中的钡、锶、铁、铝、硅
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1674-5354.2013.04.007

X射线荧光光谱法测定重晶石中的钡、锶、铁、铝、硅

引用
采用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融法制样,波长色散X射线荧光光谱法测定重晶石中钡、锶、铁、铝、硅。采用理论α系数和经验系数相结合的方法校正元素间的基体效应。测定重晶石试样各组分的相对标准偏差(RSD,n=12)均小于5.5%,结果与化学分析法吻合。

X射线荧光光谱法、多元素测定、重晶石

O657.34(分析化学)

2013-10-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

29-31

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

检验检疫学刊

1674-5354

11-5795/R

2013,(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn