波长色散X射线荧光光谱法同时测定氧化铁皮中的多种杂质元素

摘要：

采用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融法制样,波长色散X射线荧光光谱法同时测定了氧化铁皮中的铝、铜、钙、硅、镁、锰、钛、锌、磷等多种杂质元素.考察了熔剂、脱模剂以及预氧化条件等对熔片的影响；采用理论α系数校正了基体效应和元素间的干扰效应,方法的检出限在4.7 - 35.0μg/g之间.用本方法测定氧化铁皮试样中各杂质元素的相对标准偏差在0.4％ -5.1％之间,分析结果与其他方法测定值一致.与化学法相比,该方法快速、简便、精密度好、准确度高.

关键词：X射线荧光光谱法、混合熔剂、氧化铁皮

所属期刊栏目：21

分类号：O657.34(分析化学)

资助基金：广西科技厅自然基金0991295

在线出版日期：2012-07-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：25-28