X射线荧光光谱法测定铬矿中Cr、Fe、Ca、Si、S、P等元素

摘要：

[目的]选定X射线荧光光谱法测定Cr、Fe、Si、S、P等元素的背景,找出谱线重叠的校正方法.[方法]采用熔融法制样,用X射线荧光光谱仪对铬矿中Cr、Fe、Si、S、P等组分进行测定,用理论α系数法进行基体效应和谱线重叠干扰校正.[结果] 用该法测定进口铬矿样品,其测试结果与化学分析值基本相符,回收率96.3%～103.2%范围.[结论]该方法简便、快速、准确,能满足日常分析要求.

关键词：铬矿、X射线荧光光谱、理论α系数法、基体效应、谱线重叠干扰

所属期刊栏目：16

分类号：P61(矿床学)

在线出版日期：2007-01-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：53-55