Nucleus24型人工耳蜗植入后的电极有效性

摘要：

目的:随访耳蜗植入后出现蜗外电极或坏损电极的情况,评价人工耳蜗植入后电极的有效性.方法:1998 年 6 月至 2002 年 8 月 53 例Nucleus CI24M型耳蜗植入者,在术中及术后映射调图时进行电极阻抗测试,确定有无电极坏损及其坏损时间.开机时拍摄耳蜗位X线平片,确定电极是否完全植入.分析手术过程和术者经验对电极有效性的影响.结果:电极出现坏损的比例为13.2%,电极在术中插拔两次以上而造成电极坏损的危险度为0.4656.4 年累积生存率达96.2%.不完全植入的比例为15.1%,其中又以耳蜗形态异常者居多(7/11).结论:Nucleus CI24M型植入体在开机 1 ～ 4 年内的可靠性较高.电极序列在术中插拔两次以上,是导致电极坏损的主要原因.患者耳蜗的纤维化、畸形以及术者经验等因素可能导致电极不完全插入.

关键词：耳蜗植入、电极、电阻抗

所属期刊栏目：24

分类号：R764.43(耳鼻咽喉科学)

在线出版日期：2003-12-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：214-216