基于灰色线性回归组合模型的集成电路封装设备故障趋势预测
针对集成电路封装打孔机冲针监测数据的特点,分别构建灰色GM(1,1)模型和线性回归模型,开展故障趋势预测;在此基础上,采用组合预测的思想,运用灰色关联度方法融合灰色GM(1,1)模型和线性回归模型,建立灰色线性回归组合模型对设备进行故障趋势预测.结果 表明,灰色线性回归组合模型的预测精度优于单一预测模型,可以用于集成电路打孔机设备的故障趋势预测.
集成电路封装设备、故障趋势预测、灰色模型、线性回归模型
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TP206.3(自动化技术及设备)
2021-05-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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