10.3969/j.issn.1001-2257.2016.01.015
泄漏声发射传感器性能检测技术研究
提出了利用压电晶体逆压电效应作为标准声源的声发射传感器的性能检测方法.在此基础上,设计实现了基于比较检测法的泄漏声发射传感器性能检测系统,并应用到泄漏声发射传感器辐照后的性能检测中.检测结果和传感器使用效果表明,该方法用于声发射传感器性能检测是可行的.
声发射传感器、性能、检测
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TB52;TG115.28(声学工程)
2016-05-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
60-62,66