卧式数控车削中心小圆轨迹测试研究

摘要：

采用光栅非接触式轨迹测头和平面光栅得到数控机床轨迹真实情况的数据,数控机床按编程命令走过轨迹的实际表现数据时于分析精度影响因素有重要的参考价值,所做的研究主要是对于不同直径的圆轨迹特点进行测试与分析,尝试分离数控机床误差并进行补偿的可行性.

关键词：平面光栅、小圆轨迹、综合误差、反向间隙

分类号：TH161;TG715

资助基金：国家“九七 三”计划2010CB736003

在线出版日期：2012-01-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：26-28