10.3969/j.issn.1001-2257.2008.03.003
基于双能量X射线透射技术的物质分类识别方法研究
通过对单、双能量透射技术的比较分析发现由于入射能量的不同,相同原子序数物质的质量衰减系数的变化速度不同,即在双能量方式下,同一原子序数的物质对低能和高能X射线的吸收程度是不同的,这样通过低能、高能2个不同线吸收系数比较与运算,就可以从2种不同物质组成的、不同厚度产生的或相互重叠的图像中将不同种类的物体区分开.基于此原理将铝板和有机玻璃板作为基材,实验确定了物质分类识别边界曲线,并用已知物质验证了实验得到的边界曲线是有效的.
X射线、安全检查、物质识别、双能量
O241.7(计算数学)
交通部重点推广项目200235332106
2008-05-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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