10.3969/j.issn.1001-2257.2008.02.016
光耦隔离技术在智能测控系统中的应用
在以单片机为核心构成的智能测控系统中,为提高系统的可靠性、稳定性,加强抗干扰能力,将MCU与外部信号进行电气隔离.在信号隔离传输中采用光电耦合器,并介绍了在智能测控系统中常用的数字量I/O、模拟量I/O、通讯等光耦隔离技术,在实际应用中已取得了良好的效果.
光耦隔离、数字量、模拟量、通讯
TP211.6(自动化技术及设备)
2008-05-14(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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