真空环境下C形密封圈力学性能和泄漏率的有限元分析

摘要：

利用大型非线性有限元软件Marc建立了C形密封圈(简称C形圈)三维有限元模型,用单轴拉伸试验确定了C形圈材料聚四氟乙烯的参数.介绍了C形圈密封机理以及泄漏通道的形成机理.重点分析了介质压力对C形圈主材料聚四氟乙烯的最大Von Mises应力的影响以及C形圈压缩率和介质压力对C形圈主材料聚四氟乙烯接触应力的影响.同时,利用罗思· A密封理论分析了C形圈压缩率以及密封件表面粗糙度对C形圈泄漏率的影响.研究表明:当介质压力增大时,C形圈聚四氟乙烯部分的最大Von Mises应力整体是增大的;随着C形圈压缩率和介质压力的增大,C形圈聚四氟乙烯部分的接触应力也在增大;C形圈的泄漏率随着压缩率的增加而减小,随着密封件表面粗糙度的增大而增大.

关键词：C形圈、VonMises应力、接触应力、泄漏率

所属期刊栏目：47

分类号：TB42(工业通用技术与设备)

资助基金：甘肃省自然基金资助项目145RJA083

在线出版日期：2018-05-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：33-38