元器件成熟度评价方法及其应用——以FPGA为例

摘要：

在分析国外关于元器件成熟度概念内涵的基础上,提出了由制造技术的规范性、功能性能的稳定性和验证的充分性3个方面构成的元器件成熟度评价准则体系.建立了基于信息熵的元器件成熟度评价方法,并以FPGA器件为例,对构建的评价指标体系进行了实证评价,从而验证了方法的有效性.

关键词：元器件、成熟度评价、FPGA元器件、信息熵评价方法

所属期刊栏目：46

分类号：TP211(自动化技术及设备)

在线出版日期：2018-01-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：101-104