10.3969/j.issn.1672-1616.2007.03.020
一种实用的ROI区域实时搜索方法
在开发某企业半导体芯片外观视觉检测项目中,针对搜索ROI区域时,由于待测芯片的倾斜而导致搜索存在偏差甚至错误的问题,实现了一种运用特征小模板对倾斜图像进行匹配和角 度计算并校正图像的方法.利用特征小模板对小角度倾斜不敏感的性质,在半导体的视觉检测 应用中,通过两个小模板的匹配结果对待检测芯片图像进行倾斜校正,然后再进行ROI区域搜 索.在执行时间增加很小的情况下显著提高了精度,保证了后续的各项外观参数检测的实时、准 确与可靠性能.该方法已成功应用在某企业半导体芯片外观视觉检测中,实际运行表明此方法是可靠和成功的.
模板匹配、ROI搜索、倾斜校正
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TP391.4(计算技术、计算机技术)
2007-03-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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