基于Pareto前沿的单晶Si放电加工工艺参数优化

摘要：

针对电火花加工复杂、时变、多参数的特点,在单晶硅Si放电成型加工可行性的基础上,对材料去除率和表面粗糙度等工艺目标进行综合评价.采用中心组合设计实验综合考察峰值电流、脉冲宽度、脉冲间隔对P型单晶Si放电成型加工过程中材料去除率以及表面粗糙度的影响程度,通过响应曲面法分别获得材料去除率和表面粗糙度的二次响应模型,方差分析结果表明模型具有很好的拟合程度和适应性.以提高材料去除率和降低表面粗糙度为目标建立工艺参数优化模型,设计遗传算法对优化问题进行求解并得到Pareto最优解集.实验结果表明,料去除率的实验结果与优化预测结果平均相对误差为5.8％,表面粗糙度的实验结果与优化预测结果平均相对误差为5.3％.表明该算法能有效快速的实现P型单晶Si放电成型加工过程的工艺参数优化.

关键词：放电加工、单晶硅、材料去除率、表面粗糙度、参数优化

所属期刊栏目：39

分类号：TG661

在线出版日期：2017-11-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：1092-1098