贮存剖面下电连接器接触性能退化统计建模研究

摘要：

针对电连接器面向任务剖面时的贮存可靠性评估问题,分析了电连接器在贮存剖面下的贮存应力及相应的接触失效机理,并建立了在温度-插拔应力下的电连接器接触性能退化统计模型;建立了基于接触对表面接触斑点与氧化腐蚀物的随机相遇机制的计算机模拟模型,以计算机模拟结果与试验结果进行比较,验证了所建模型的有效性;为了进一步检验模型,设计了6组对比试验,并对样品接触件的表面进行微观分析,试验结果表明电连接器的性能退化数据服从正态分布且与模拟结果成线性相关关系,另外插拔力对接触件表面造成损伤并加速了退化过程;解决了电连接器在温度-插拔组合应力下的性能退化建模问题,为电连接器面向任务剖面的加速退化试验方案设计及可靠性评估等进一步的研究奠定了基础.

关键词：可靠性、电连接器、贮存寿命、性能退化、统计建模

所属期刊栏目：54

分类号：TB114;V442(工程基础科学)

资助基金：国家自然科学基金51275480,51305402;浙江理工大学研究生创新YCX16023

在线出版日期：2019-03-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共9页

页码：197-205