基于栅格渗漏模型的静密封界面状态演变特性研究

摘要：

由于密封界面微观形貌的复杂性,静密封机理及其状态演变一直以来是个难题.在对密封界面进行离散和近似的基础上,提出一种基于栅格渗漏模型的静密封界面渗漏状态预测模型.给出栅格渗漏模型的构建方法,在此基础上通过大量数值试验对密封-渗漏状态演变特性进行了分析,进而建立了静密封界面状态演变曲线的数学模型,发现渗漏发生的概率在与系统相关的阈值附近呈现急转的规律,同时研究表明静密封界面的接触面积、表面纹理方向等对密封界面的状态演变特性有显著影响.结合逾渗理论和试验数据,讨论所提出模型及所发现规律的通用性.

关键词：静密封、栅格渗漏模型、状态演变、逾渗、装配

所属期刊栏目：52

分类号：TB42(工业通用技术与设备)

资助基金：国家自然科学基金资助项目51275047

在线出版日期：2016-06-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：104-113