结构光三维测量中的亚像素级特征提取与边缘检测

摘要：

提高采样频率和检测精度是目前结构光三维测量研究中的关键问题.传统的结构光测量主要通过提取光条中心线来求取物体表面轮廓特征.以激光线光源为结构光光源,提出了针对单条线型激光光束的双特征线提取方法,从而使采样频率提高一倍.同时在算法中引入亚像素检测思想,实现对激光光束的亚像素级特征提取,提高了测量精度.对激光光束宽度与物体表面倾角的关系进行分析,利用Lambert漫反射模型,给出了物体表面倾斜时的阈值修正算法,试验结果验证了算法对提高测量精度的有效性.

关键词：结构光、亚像素、三维测量、Lambert模型

所属期刊栏目：40

分类号：TH741.3(仪器、仪表)

资助基金：国家自然科学基金50074010;教育部科学技术研究项目02015

在线出版日期：2005-03-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：96-99