粗糙表面轮廓相关性的倒谱分析

摘要：

基于倒谱分析的基本原理,认为倒谱反映的是信号和信号延迟之间的内在联系,可应用于粗糙表面轮廓的相关性分析.通过对几种典型机械加工试件测试和倒谱分析,并与以往的统计自相关函数描述方法比较后表明,倒谱同样可以用于随机过程表面的相关性分析,而且能非常容易地判别相关长度,相关性分析的灵敏度比自相关函数高.

关键词：表面粗糙度、倒谱分析、自相关函数

所属期刊栏目：40

分类号：TG84;TH161(公差与技术测量及机械量仪)

在线出版日期：2004-08-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：87-91