THEORETICAL ANALYSIS AND EXPERIMENTAL STUDY OF CARBON NANOTUBE PROBE AND CONVENTIONAL ATOMIC FORCE MICROSCOPY PROBE ON SURFACE ROUGHNESS

机标关键词：SURFACE ROUGHNESS、ATOMIC FORCE MICROSCOPY、CARBON NANOTUBE、carbon nanotube、fractal dimension、atomic force microscope、the surface roughness、indium tin oxide、immunoglobulin G、silicon nitride、ITO film

所属期刊栏目：21

分类号：O41;TB3

资助基金：National Natural Science Foundation of China 50605012

在线出版日期：2009-01-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：62-64