基于CPLD的线束测试台的研究

摘要：

基于CPLD扩展最小单片机系统的I/O口,对384点线束的绝缘耐压性能进行测试,包括测试各导线之间的绝缘电阻和漏电流以及各导线与外壳之间的绝缘电阻和漏电流.实际应用表明:该方法的硬件电路简单,系统运行可靠,测试过程简单快捷,且可扩展性好.

关键词：CPLD、线束、绝缘耐压性能、测试

分类号：TP23(自动化技术及设备)

资助基金：湖南省教育厅一般资助项目08C868

在线出版日期：2011-07-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：30-31