10.3969/j.issn.1002-2333.2006.05.041
原子力显微镜在分子自组装研究中的应用
原子力显微镜(AFM)以其分辨率高、样品无需特殊制备、实验可在大气环境中进行等优点被广泛应用于分子自组装这种自下而上的微细加工技术的研究中.近年来,随着对自组装行为研究的深入,其应用已由对自组装分子表面几何形貌的观测发展到制备纳米级结构和表征表面其它性能的研究领域.文中在简单介绍AFM及分子自组装优势的基础上,总结了AFM在自组装研究方面的若干新应用,并对其应用前景作出展望.
AFM、分子自组装、纳米刻蚀
O6(化学)
2006-05-25(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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