基于应力-强度干涉理论的电子设备结构可靠性设计研究

摘要：

电子设备功能日趋复杂,其可靠性指标被广泛关注.特殊环境条件下,产品的结构可靠性也应被重点关注.对依据经典应力-强度理论,对结构可靠性设计方法开展研究,提出了结构可靠性设计的主要流程,以及在基于应力、强度标准正态分布情况下,给出了具体的可靠度定量计算方法,并通过具体案例进行演算.对电子产品开展结构可靠性预计等相关工作的开展具有一定的参考价值.

关键词：应力-强度干涉、电子设备、结构设计、可靠性

分类号：TN103(真空电子技术)

在线出版日期：2015-12-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：61-63