自组装聚电解质薄膜的低角度X射线衍射研究

摘要：

采用静电自组装技术在单晶硅和石英玻璃基片上制备了阳离子聚电解质PDDA和阴离子聚电解质PS-119的多层复合薄膜,对薄膜作低角度X射线衍射分析,得到清晰的 Kiessig 衍射曲线,根据衍射曲线估算了薄膜的厚度.自组装PDDA/PS-119薄膜的层状结构特征不明显,聚电解质单层的厚度可以控制在1nm上下,双层的厚度可以控制在2nm左右,薄膜的总厚度与聚电解质水溶液的浓度有关,与薄膜的双层数成比例关系.

关键词：聚电解质、静电自组装、多层薄膜、低角度X射线衍射

所属期刊栏目：20

分类号：O64(物理化学（理论化学）、化学物理学)

资助基金：湖北省自然科学基金2000J002

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：18-20,10