可控硅简易判断法
@@ 可控硅是一种常用的半导体元件,常易发生阳、阴极之间的电压过高时,发生击穿短路的故障.电路中产生过高电压的原因,一是静电感应,二是电感回路电流的突变,此外是控制极开路.
可控硅、简易判断、判断法
TN34;TM73;TU973.2
2005-03-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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可控硅、简易判断、判断法
TN34;TM73;TU973.2
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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