X-射线荧光光谱法测定萤石中的氟化钙、二氧化硅含量

摘要：

应用X-射线荧光光谱法( XRFS)测定了萤石中氟化钙、二氧化硅含量，通过化学法测定萤石中可溶于弱酸的钙量，从总钙量中减去，得出氟化钙中的钙量，从而求得氟化钙含量。方法的精密度和准确度良好，能满足生产要求。

关键词：X-射线荧光光谱法、萤石、试验、氟化钙、二氧化硅

所属期刊栏目：23

分类号：O65;X13

在线出版日期：2016-05-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：215-215,217