电沉积纳米孪晶Ni中五次孪晶的电子显微分析

摘要：

通过直流电沉积技术制备具有高密度纳米孪晶结构的Ni,并对该材料中存在的五次孪晶结构进行了深入系统的电子显微分析.获得了纳米孪晶Ni中五次孪晶结构的HRTEM图像和SAED花样;研究了单个晶粒内部五次孪晶的结构特性、分布规律.结果表明,五次孪晶是由5个[111]晶体旋转组成,五次旋转孪晶产生的7.35°本征间隙至少由五次孪晶中的2个孪晶界分担;而且分担间隙的孪晶界呈现宽化现象,并且分解为新的孪晶,导致五次孪晶晶粒在整体形状上不具有五次对称性,呈现出一定的不规则形状.TEM截面形貌分析表明,电沉积纳米孪晶Ni呈现[110)面平行样品表面织构,晶粒为柱状晶分布,柱状生长方向为[110].通过综合结构表征,给出了五次孪晶在三维空间的结构模型.

关键词：电沉积、纳米孪晶Ni、显微结构、透射电镜(TEM)、五次孪晶

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分类号：TG146.15;TG113.11(金属学与热处理)

资助基金：国家自然科学基金项目11374027和51001003,以及北京市教委重点基金项目KZ201010005002资助;National Natural Science Foundation of China.11374027 and 51001003;Key Project Funding Scheme of Beijing Municipal Education CommitteeKZ201010005002

在线出版日期：2014-04-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：305-312