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10.3724/SP.J.1037.2012.00401

Ni-P消耗对焊点电迁移失效机理的影响

引用
研究了Cu/Sn/Ni-P线性焊点在150和200℃,电流密度1.0×104 A/cm2的条件下化学镀Ni-P层消耗及其对焊点失效机理的影响.结果表明,在Ni-P层完全消耗之前,阴极界面的变化表现为:伴随着Ni-P层的消耗,在Sn/Ni-P界面上生成Ni2SnP和Ni3P;从Ni-P层中扩散到钎料中的Ni原子在钎料中以(Cu,Ni)6Sn5或(Ni,Cu)3Sn4类型的IMC析出,仅有很少量的Ni原子能扩散到对面的Cu/Sn阳极界面.当Ni-P层完全消耗后,阴极界面的变化主要表现为:空洞在Sn/Ni2SnP界面形成,Ni3P逐渐转变为Ni2SnP,空洞进一步扩展形成裂缝,从而导致通过焊点的实际电流密度升高、产生的Joule热增加,最终导致焊点发生高温电迁移熔断失效.

电迁移、化学镀Ni-P、界面反应、金属间化合物、失效

49

TG115(金属学与热处理)

国家自然科学基金资助项目51171036

2013-04-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

81-86

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金属学报

0412-1961

21-1139/TG

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2013,49(1)

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