10.3321/j.issn:0412-1961.2006.09.014
制备态FeZrBNi/Ag/FeZrBNi三层膜的巨磁阻抗效应
用射频溅射法在单晶硅衬底上制备了FeZrBNi/Ag/FeZrBNi三层膜,对制备态样品进行了磁阻抗测量.结果表明,样品纵向和横向的最大磁阻抗比分别为18%和31%,取得最大阻抗比的频率分别为7和8 MHz;在此频率下,样品的纵向和横向相对磁导率比分别达到153%和5117%.这表明掺Ni的FeZrB三层膜在制备态已具备优异的巨磁阻抗效应和软磁性能.同时还分析了薄膜样品的电阻、电抗分量和有效磁导率随频率的变化关系.
巨磁阻抗效应、FeZrBNi三层膜、掺杂
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O482.54(固体物理学)
国家重点基础研究发展计划973计划G2001CB610603
2006-10-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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971-973