10.3321/j.issn:0412-1961.2004.04.004
双相材料中相间内应力的X射线测量与表征
基于X射线应力测量原理,建立了一种双相材料相间内应力的测量与表征方法.利用衍射谱线上两相的衍射峰位差,有效地消除了仪器的系统误差.测量了实际材料SiCp/6061Al中的相间内应力,证实该方法具有较高的测量精度.
双相材料、相间内应力、X射线应力测量
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TG115.22(金属学与热处理)
国家自然科学基金50131030;上海市应用材料研究与发展基金0211
2004-08-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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351-354