晶体表面宏观迹线分析方法及其应用

摘要：

从晶体表面宏观迹线配置,提出精确确定各种晶系晶体的取向、计算单晶3个相互垂直表面上基体和孪晶中滑移面和孪生面等迹线分布的方法;作为应用实例,精确确定了一种四方点阵结构的Ti-56Al(原子分数,%)单晶的宏观取向,计算和拟合出试样3个不严格垂直表面的指数及其上全部迹线分布.

关键词：晶体表面、宏观迹线、分析方法、Ti-56Al单晶

所属期刊栏目：36

分类号：TG115.213.9;TG146.23(金属学与热处理)

在线出版日期：2007-05-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：212-216