双带紧束缚模型中噪声对超晶格中电子输运性质的影响

摘要：

运用直交流电场驱动下的双带紧束缚模型,研究了噪声对超晶格中电子输运性质的影响.数值结果表明,外部噪声能够破坏瞬时电流的周期性并且能够削减长时平均电流的峰值.随着噪声强度的增加,平均电流峰的高度降低,宽度增加;当增大噪声的衰减常数时,平均电流峰会有类似上述变化.

关键词：双带模型、外部噪声、输运、超晶格

所属期刊栏目：22

分类号：NO441

资助基金：国家自然科学基金10274007 and 90103027;中国工程物理学院校科研和教改项目

在线出版日期：2005-10-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：425-430