10.3969/j.issn.2095-0411.2007.02.014
准周期性对光子晶体缺陷模的影响
利用传输矩阵法研究了Bragg镜的准周期性对光子晶体缺陷模的影响.研究表明,无论是高折射率介质层还是低折射率介质层,当其折射率或厚度按一定的递变规律递增时,缺陷模都将向低频方向移动,递减时则向高频方向移动.但对缺陷模品质因子的影响却不同,高折射率介质层的折射率递增时品质因子提高,递减时品质因子减小;但低折射率介质层的折射率递变时品质因子的变化规律刚好相反;而介质层厚度的递变几乎不影响品质因子.此外还研究了准周期性对缺陷层内电场增强效应的影响.
光子晶体、准周期性、缺陷模、品质因子
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O472(半导体物理学)
2007-08-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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