偏析对X65管线钢抗氢致裂纹性能的影响

摘要：

通过LIBS-OPA-100原位分析仪、扫描电镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)等方法,从显微组织、硬度、偏析元素3方面研究了X65管线钢中心偏析带马奥岛(M/A)组元对氢致裂纹性能的影响,偏析与硬度以及偏析与氢致裂纹(HIC)之间的关系.结果表明:X65管线钢中C、Mn、S、Si元素在中心偏析后形成硬度较高的带状组织是导致抗HIC性能不合格的主要原因;显著的中心偏析马奥岛、铁素体带状组织和大尺寸的相颗粒析出不利于抗HIC性能;带状的马奥岛组织是氢原子的聚集场所,是导致氢致裂纹萌生与扩展的源头.

关键词：X65管线钢、偏析、硬度、氢致裂纹(HIC)、硫化氢(H2S)

所属期刊栏目：36

分类号：TG142.41(金属学与热处理)

资助基金：国家科技支撑计划2011BAE25B00,2011BAE25B03

在线出版日期：2015-06-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：126-132