10.3969/j.issn.1000-4440.2016.06.005
玉米二态性InDel位点的鉴定和分子标记开发
随着下一代测序技术( Next generation sequencing, NGS)的发展,可以利用高通量测序数据挖掘基因组特异的插入/缺失( InDel)位点,这使InDel分子标记的开发成为可能。本研究利用327份玉米自交系的测序数据,通过全基因组结构变异评估发现分布于10条染色体上的25847个InDel位点。利用PIC值≥0.30的3304个位点进行系统发育树构建和群体结构分析,其结果与利用SNP位点分析获得的结果高度一致,说明这些多态性较高的InDel位点可以作为代表性标记用于玉米遗传组成的差异分析。采用53对PCR引物进行扩增试验,发现这些InDel引物具有位点专化特征并且其杂交种鉴定的平均杂合率为0.5692,表明这些标记能准确鉴定出玉米杂交种的杂合度。
玉米、二态性 InDel 位点、系统发育树、群体结构
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S513.3(禾谷类作物)
江苏省农业科技自主创新基金项目CX142006;江苏省自然科学基金项目BK20141385
2017-02-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共9页
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