水稻籽粒不同部位P与Al、Cd、Pb含量的关系

摘要：

利用环境扫描电镜结合X射线电子探针显微分析技术,研究了水稻籽粒不同部位P与Al、Cd、Pb含量的关系.结果表明:金属元素Al、Cd、Pb和其他矿质元素一样,也在糊粉层中积累最多;水稻籽粒中P的积累与Al、Cd、Pb的富集有密切关系;其中,籽粒不同部位P与Al的含量存在极显著的正相关关系,而Pb和Cd的含量并不随着P含量的增加而增加,其变化幅度较小.说明P对Al的富集具有促进作用.

关键词：水稻籽粒、重金属、X射线电子探针显微分析、富集

所属期刊栏目：23

分类号：S511.01(禾谷类作物)

资助基金：国家自然科学基金30270234

在线出版日期：2007-06-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：93-97