10.3969/j.issn.1671-7775.2013.05.011
基于加速寿命试验的IGBT模块寿命预测和失效分析
针对IGBT可靠性分析与寿命预测问题,提出了一种利用加速寿命试验对IGBT模块使用寿命进行预测的新方法.论述了加速寿命试验的原理与方法,提出采用对数正态分布描述IGBT模块的寿命分布,以阿伦尼斯模型为基础,利用极大似然估计法对试验数据进行统计与分析,建立了IGBT模块的寿命预测模型,实现了对正常应力下模块寿命的科学估计,并对IGBT模块的失效机理进行了详细分析.结果表明,IGBT模块寿命服从对数正态分布,纠正了以往认为其服从Weibull分布的错误思想.随结温差和平均结温的增大,IGBT模块寿命逐渐减小,并且当模块到达寿命终点时,其最终失效形式为热失效.
加速寿命试验、统计分析、寿命分布、预测模型、失效机理
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TP273;TM351(自动化技术及设备)
国家自然科学基金资助项目50737004,51277178
2013-10-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共8页
556-563