10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2020.07.004
基于VIF特性分析的电路板故障诊断方法研究
VIF特性曲线即伏特-安培-频率特性曲线;分立元件或集成芯片是电路板故障的最小可隔离单元,元器件的损坏或特性改变是电路板故障的最根本原因;针对元件参数获取的问题,采用基于VIF特性分析的方法,对常见元器件进行了分析,并模拟了常见的故障模式,分析其VIF特性曲线特征,总结了各类组合元件曲线变化规律,针对某型灭火抑爆系统电路板的容性故障和感性故障进行了诊断,效果显著.
VIF特性曲线、参数获取、故障诊断
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TM933
2020-08-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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14-18,23