基于PXI某处理器模块ATE设备的设计与实现

摘要：

随着测试技术的飞速发展,高性能、高性价比的PXI测试技术平台应运而生,为了提升产品自动化测试效率,将其应用于处理器模块综合自动测试设备(ATE)的软、硬系统结构设计,其采用模块化、标准化思想,以PXI测试技术标准平台为核心,系统软件配合各硬件模块和信号接口模块,既可以某个参数单项测试,也可全项目参数测试,测试覆盖率95％以上,测试完成按照定义格式系统自动存储测试结果;被测试产品功能、性能正常,投入使用效果良好,并为PXI测试平台应用于ATE设备提供应用实践平台,具有普遍的通用性及广泛的推广性.

关键词：PXI平台、ATE设计、计量校准

所属期刊栏目：28

分类号：V271(各类型航空器)

资助基金：航空基金项目2006ZC31002

在线出版日期：2020-06-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：252-257