基于LBIST的纠检错电路验证方法与实现

摘要：

基于逻辑内建自测试的设计原理,提出了一种针对纠检错电路进行功能自测试的方法,根据纠检错电路具有固定纠检错能力的特点,无需存储海量的比较数据,也不需要设计响应特征分析器对结果数据进行压缩处理,针对具体的纠检错电路,通过增加特别设计的注错逻辑可实现任意类型的故障注入,并根据注错信息可对结果进行预测,通过与预期结果比较,可达到验证的目的;最后,以(40,32)海明编码与解码电路为例,实现了其功能自测试结构,并对所有240-1种故障进行了注入与验证;结果表明使用本文的验证方法,可实现纠检错电路的自动化随机验证.

关键词：逻辑内建自测试、纠检错电路、故障注入、单粒子翻转、线性反馈移位寄存器

所属期刊栏目：22

分类号：TP302.8(计算技术、计算机技术)

资助基金：十二五核高基项目2011AA120201

在线出版日期：2015-01-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：2146-2147,2153