基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案

摘要：

为了解决电路板快速诊断维修问题,嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向;嵌入式测试性设计,是将自动故障检测和诊断功能内置于电路板中,利用嵌入式测试控制器,在UUT内部实现故障检测;边界扫描技术作为高密度电路板故障检测的主流技术,将结合嵌入式测试方法,成为板级乃至系统级故障检测的新发展方向;文章首先概述了嵌入式边界扫描技术,然后提出了一种基于微控制器的嵌入式边界扫描解决方案,阐述了嵌入式边界扫描的数据生成技术,最后以数字IO电路板为对象进行了测试性设计与验证,并给出结论;总体上,嵌入式测试以增强测试自动化、提高测试覆盖率和测试效率为目的,能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本.

关键词：嵌入式测试、可测性、边界扫描、微控制器

所属期刊栏目：22

分类号：TM57(电器)

资助基金：总装备部预研项目51317040204

在线出版日期：2015-01-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：686-689