EMIF在TD-LTE无线综测仪系统中的应用

摘要：

通用串口速率较低难以满足大量的复杂性数据的传输需求,为了满足TD-LTE无线综合测试仪表开发中DSP与FPGA芯片之间快速通信的需求,通过研究DSP手册和Xilinx V5芯片,设计了一种通过EMIF接口在两个芯片之间进行快速数据交互的简单有效方案;经过FPGA仿真、综合、与DSP联机调试等操作,验证了该设计方案能够实现数据的正确传输,工作性能稳定且具有较强的可靠性;该设计方案数据处理能力强,传输速率达到457.1Mbit/s,且已在TD-LTE无线综合测试仪表的开发中得到应用.

关键词：外部存储器接口、分时长期演进、增强型直接内存存取、通用输入输出

所属期刊栏目：21

分类号：TN929.5

资助基金：国家科技重大专项基金资助项目TD-LTE无线综合测试仪表开发2009ZX30002-009

在线出版日期：2015-01-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：3441-3443