基于机器视觉的微片状物厚度检测

摘要：

针对片状颗粒厚度检测的实际需求,结合机器视觉、图像处理和嵌入式技术,设计与实现了一套基于高性能ARM11的微片状颗粒厚度检测系统.该系统以QT和S3C6410为软硬件平台,提出了利用轮廓提取和最小矩形边界框相结合的方法计算片状颗粒厚度.结果表明,该检测系统具有处理速度快,测量精度高和成本低廉等优点,满足了对颗粒厚度测量的需求.

关键词：嵌入式系统、机器视觉、图像处理、厚度检测

所属期刊栏目：21

分类号：TP391.8(计算技术、计算机技术)

资助基金：国防基础科研资助项目项目文号:869

在线出版日期：2015-01-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：36-38