一种基于FPGA的存储器模块测试系统设计

摘要：

存储器模块测试对于航空电子综合系统的可靠性至关重要,设计了一种基于FPGA实现的高速存储器测试系统,由基于March-B存储器测试算法的波形产生器、SDRAM控制器和串行口控制器等组成；采用Altera EP1C6-6芯片进行实现,综合与布局布线结果显示波形发生器的运行频率高达266.7 MHz,逻辑占用率68％；使用C++语言开发了上层控制软件与用户界面,在实验中采用故障注入方式模拟存储器模块出错情况；结果显示设计的存储器模块测试系统达到了设计要求；实验结果显示该系统能够测试多种LocalBus总线协议兼容的存储器模块,并且能够覆盖多种典型存储器故障.

关键词：存储器模块、March-B算法、波形发生器、测试

所属期刊栏目：21

分类号：TP306.2(计算技术、计算机技术)

资助基金：西北工业大学基础研究基金GCKY1004;国家自然科学基金61003037

在线出版日期：2015-01-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：33-35