FPGA嵌入式测试方法研究

摘要：

FPGA器件的高密度化,高集成度,使得电路板越来越复杂,从外部对电路板的结构和功能执行测试变得更加困难,因此需要通过对FPGA实现嵌入式测试以便有效降低测试的难度；文中首先对FPGA的嵌入式测试的特点进行了概述,然后针对以FPGA为核心的常见电路进行了嵌入式测试方法研究,并介绍了其核心技术边界扫描测试原理,探讨了具体的实现方案,最后根据其特点简要分析了其应用前景.

关键词：FPGA、嵌入式测试、边界扫描

所属期刊栏目：20

分类号：TP274(自动化技术及设备)

在线出版日期：2013-01-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：3384-3386