基于IEEE 1500标准的模拟核外壳的设计

摘要：

在系统芯片SoC测试中,模拟核的可靠性测试是现在亟待解决的一个重要问题；针对此问题,主要对Wrapper测试壳结构进行设计,在此标准的基础上增加了AD和DA的转换器,既保留了原来应有的测试标准和方法,同时增加了用数字信号来测试模拟信号的方法；通过用Quartus Ⅱ软件和PSpice软件的联合仿真下,证明了基于1500标准的外壳设计可以对模拟核进行测试.

关键词：模拟核、IEEE Std 1500、测试外壳

所属期刊栏目：20

分类号：TP206(自动化技术及设备)

资助基金：广西研究生教育科研创新项目2010105950804M33

在线出版日期：2013-01-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：2536-2538,2545