基于IEEE P1687的可变扫描链设计

摘要：

在系统芯片SoC中,嵌入式仪器的应用越来越广泛；如何利用已经获得广泛应用的IEEE 1149.1测试访问端口(TAP)实现对嵌入式仪器的访问成为一个新的问题；IEEE P1687 (IJTAG)建议标准提供了一个连接TAP与片上嵌入式仪器的界面标准；其特点是在扫描链中插入SIB使得在嵌入式仪器网络设计和嵌入式仪器的访问中扫描链具有灵活可变的特性；介绍了IEEE P1687标准,分析了IEEE 1149.1在嵌入式仪器访问应用中的缺点及IEEE P1687的优势,并设计实现了SIB的功能,给出了P1687的单层与多层网络结构,并对所需功能进行了仿真验证证明方案可行.

关键词：嵌入式仪器、IEEE P1687、IJTAG、SIB

所属期刊栏目：20

分类号：TP206(自动化技术及设备)

在线出版日期：2013-01-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：2357-2359,2380