基于IEEE Std1500的IP核并行测试控制架构设计

摘要：

随着IEEE 1500标准的不断推广应用,兼容该标准的IP核也越来越多,具有IEEE 1500标准结构的IP核也被越来越多的应用到片上系统的设计中；由于IEEE 1500标准定义了外壳架构和测试访问机制,因此如何实现片上系统中IP核的外壳架构和测试访问机制的测试控制便成为研究的热点问题；文章在研究标准的基础上,基于外壳架构和CAS-BUS测试访问机制,提出IP核的并行测试控制架构,通过多IP核的仿真时序图分析,验证了测试控制架构的有效性；该架构能够实现多IP核的并行测试控制,节约了测试时间,提高了测试效率,为片上系统的测试控制提供一种新思路.

关键词：IEEE 1500标准、IP核、外壳、测试访问机制、并行

所属期刊栏目：20

分类号：TP391.76(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金项目61179001

在线出版日期：2013-01-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：2338-2340,2344