基于IEEE Std1500的IP核并行测试控制架构设计
随着IEEE 1500标准的不断推广应用,兼容该标准的IP核也越来越多,具有IEEE 1500标准结构的IP核也被越来越多的应用到片上系统的设计中;由于IEEE 1500标准定义了外壳架构和测试访问机制,因此如何实现片上系统中IP核的外壳架构和测试访问机制的测试控制便成为研究的热点问题;文章在研究标准的基础上,基于外壳架构和CAS-BUS测试访问机制,提出IP核的并行测试控制架构,通过多IP核的仿真时序图分析,验证了测试控制架构的有效性;该架构能够实现多IP核的并行测试控制,节约了测试时间,提高了测试效率,为片上系统的测试控制提供一种新思路.
IEEE 1500标准、IP核、外壳、测试访问机制、并行
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TP391.76(计算技术、计算机技术)
国家自然科学基金项目61179001
2013-01-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共4页
2338-2340,2344